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徠卡顯微系統(tǒng)（上海）貿(mào)易有限公司《徠卡3D表面測量系統(tǒng)_Leica DCM8工業(yè)白光共聚焦顯微鏡_樣本、參數(shù)、價格、案例等》產(chǎn)品樣本，共計16頁，4.50MB，PDF格式。

在工業(yè)和研究中，高精度表面分析發(fā)揮著至關(guān)重要的作用，它可以幫助確保材料和組件實現(xiàn)令人滿意的性能，但同時也面臨著諸多挑戰(zhàn)表面結(jié)構(gòu)錯綜復(fù)雜，高傾斜度區(qū)域要求橫向分辨率達(dá)到數(shù)微米，而關(guān)鍵性微觀峰谷要求垂直分析達(dá)到亞納米級。雖然共聚焦顯微技術(shù)可以提供高橫向分辨率，但要實現(xiàn)亞納米級垂直分辨率，則需要于涉測量技術(shù)。
因此，我們將這兩種測量技術(shù)相結(jié)合，推出了多功能高速3D表面測量系統(tǒng)Leica DCM8——為您的所有測量觀察任務(wù)提供一站式解決方案。

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